企業(yè)簡(jiǎn)介
資質(zhì)榮譽(yù)
超聲波掃描顯微鏡SAT
X射線(xiàn)X-ray
I/V自動(dòng)曲線(xiàn)追蹤儀Auto Curve Tracer
酸開(kāi)封機(jī)Decap
激光開(kāi)封機(jī)Laser Decap
微光顯微鏡EMMI（P-100）
EMMI和OBIRCH二合一系統(tǒng)TIVA
雙面探針臺(tái)DPW-800
高壓探針臺(tái)HPW
8寸探針臺(tái)PW-800
6寸探針臺(tái)PW-600
經(jīng)濟(jì)型6寸探針臺(tái)MPW-600
4寸探針臺(tái)PW-400
12寸探針臺(tái)PW-1200
掃描電鏡SEM
聚焦離子束FIB
金剛石帶鋸切割機(jī)Allied Diamond Band Saw
高速精密切割機(jī) Allied TechCut 5™
自動(dòng)研磨機(jī)Allied MultiPrep™
真空鑲嵌機(jī) Allied Tech Press 3™
離子刻蝕機(jī)RIE-10NR
離子刻蝕機(jī)RIE-1C
O/S測(cè)試機(jī)
ZEISS顯微鏡
IR紅外顯微鏡
針座MP-10
針座MP-06
針座MP-01
同軸探針桿
三軸探針桿針
軟針（GGB）
硬針（GGB）
RF高頻探針頭（GGB）
公司新聞
行業(yè)動(dòng)態(tài)
人才招聘
在線(xiàn)留言
聯(lián)系方式
菜單
非破壞性工具
開(kāi)封工具
漏電定位系統(tǒng)
探針臺(tái)
FIB及掃描電鏡
去層研磨鑲嵌
其他設(shè)備
零配件
產(chǎn)品展示
Failure analysis 集成電路失效分析 Wafer level reliability 晶元可靠性認(rèn)證
021-34638926
Copyright © 2019, 上海儀準(zhǔn)電子科技有限公司 滬ICP備16044249號(hào)
技術(shù)支持：匯成傳媒
微信掃一掃
