企業(yè)簡介
資質(zhì)榮譽
超聲波掃描顯微鏡SAT
X射線X-ray
I/V自動曲線追蹤儀Auto Curve Tracer
酸開封機Decap
激光開封機Laser Decap
微光顯微鏡EMMI（P-100）
EMMI和OBIRCH二合一系統(tǒng)TIVA
雙面探針臺DPW-1200
高壓探針臺HPW
8寸探針臺PW-800
6寸探針臺PW-600
經(jīng)濟型6寸探針臺MPW-600
4寸探針臺PW-400
12寸探針臺PW-1200
掃描電鏡SEM
聚焦離子束FIB
金剛石帶鋸切割機Allied Diamond Band Saw
高速精密切割機 Allied TechCut 5™
自動研磨機Allied MultiPrep™
真空鑲嵌機 Allied Tech Press 3™
離子刻蝕機RIE-10NR
離子刻蝕機RIE-1C
O/S測試機
ZEISS顯微鏡
IR紅外顯微鏡
針座MP-10
針座MP-06
針座MP-01
同軸探針桿
三軸探針桿針
軟針（GGB）
硬針（GGB）
RF高頻探針頭（GGB）
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FIB及掃描電鏡
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產(chǎn)品展示
開短路的測試 I/V曲線的觀察，機臺本身除了可作產(chǎn)品的失效分析外，還可結(jié)合Auto Handler，做Mass Production之Ope …
具有優(yōu)化的操作理念 擁有更高襯度和更高分辨率的新型光學(xué)系統(tǒng) 基于“向前看”理念的升級設(shè)計 保證穩(wěn)定性和免震動工作的創(chuàng)新設(shè)計
MEMS 封裝測試 航空航天領(lǐng)域
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